系統(tǒng)概述
       WHOI APD測(cè)試系統(tǒng)是我公司完全自主研發(fā)而成，搭載我司研發(fā)的手動(dòng)耦光平臺(tái)以及APD芯片測(cè)試板，實(shí)現(xiàn)了雪崩光電二極管芯片的擊穿電壓、暗電流、正向電壓、響應(yīng)度、倍增因子、量子效率以及無光、有光狀態(tài)下對(duì)APD芯片進(jìn)行I-V曲線的自動(dòng)測(cè)試和合格判定。
該測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確性高、測(cè)試速度快、軟件操作方便，顯示結(jié)果直觀，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的自動(dòng)存儲(chǔ)，方便進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，以及隨時(shí)查看APD的I-V曲線

系統(tǒng)特點(diǎn)

1. 測(cè)試多樣化：設(shè)計(jì)研發(fā)多種測(cè)試板，可對(duì)多種類型APD芯片進(jìn)行測(cè)試，例如：

• 大光敏面InGaAs APD，3pin TO46器件
• 蓋革 InGaAs APD，3pin TO46器件以及帶尾纖器件
• 10G InGaAs APD+TIA，5pin TO46器件以及帶尾纖器件，差分輸出
• 蓋革 InGaAs APD + TEC，6pin TO8器件以及帶尾纖器件

2. 測(cè)試速度快：0~35V，0.1V步進(jìn)，有光和無光I-V曲線測(cè)試用時(shí)30S；
3. 精準(zhǔn)測(cè)試：在TCE精準(zhǔn)控溫下進(jìn)行APD芯片I-V快速測(cè)試；
4. 自動(dòng)存儲(chǔ)：I-V曲線測(cè)試時(shí)，實(shí)時(shí)存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)；
5. 雙I-V曲線：繪制有光和無光電流曲線，進(jìn)行雙曲線顯示；
6. 報(bào)表保存：多次測(cè)試數(shù)據(jù)以Excel報(bào)表形式保存，便于后期數(shù)據(jù)分析；
7. 歷史查詢：可以查找已完成測(cè)試芯片的歷史I-V曲線

系統(tǒng)構(gòu)成
WHOI APD測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖下圖1所示：
 
圖1 WHOI-APD測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖
表1 系統(tǒng)組成單元

序號(hào)	系統(tǒng)單元	附件
1	WHOI-GY-001 光源
2	WHOI-GGL-002光功率計(jì)	WHOI-GGL-W01 RS232通訊線
3	WHOI-GS-003 光衰減器	WHOI-GS-W01 RS232通訊線
4	WHOI-GF-004 光分路器	WHOI-GF-W01光纖跳線
5	WHOI-YB-005 V-I源表	WHOI-YB-D01GPIB數(shù)據(jù)采集卡+ WHOI-YB-W02三軸同軸線纜
6	WHOI-DY-006 VCC電源	WHOI-DY-W01 USB通訊線+ WHOI-DY-W02電信號(hào)線
7	WHOI-TEC-007 溫度控制器	WHOI-TEC-W01 DB25線纜+ WHOI-TEC-W02 數(shù)據(jù)采集線
8	WHOI-OGT-008 耦光平臺(tái)
9	WHOI-CSB-009 APD測(cè)試板	WHOI-3PIN+WHOI-5PIN+WHOI-6PIN
10	WHOI-PBZ-010 遮光屏蔽罩	WHOI-PBZ-W01電信號(hào)線
11	WHOI-ZJ-011 主機(jī)	（鍵盤、顯示器、鼠標(biāo)）

 


 
 















軟件界面

圖2 單點(diǎn)測(cè)試界面

圖3 I-V測(cè)試界面

圖4 繪制曲線界面

定制方案
我們可以根據(jù)您的需求，為您定制所需的APD芯片測(cè)試板以及不同測(cè)試方案；針對(duì)性的優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)，也可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試。